反射測(cè)試儀采用了高穩(wěn)定性的鹵鎢燈光源，穩(wěn)定的電源輸出保證了光譜的穩(wěn)定性，有效的提高了測(cè)試精度。使用積分球測(cè)量方式，提供均勻的照射光斑，進(jìn)一步提高了測(cè)試的精確性，可以適用于多種類型的樣品。測(cè)試儀整體采用8度角的設(shè)計(jì)，符合CIE的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)。反射率測(cè)試儀內(nèi)部采用了集成式的微型光譜儀，沒有固定式光學(xué)元件，穩(wěn)固可靠，光學(xué)精度不受移動(dòng)影響，體積小巧，可以在各種環(huán)境中使用。反射率測(cè)試儀采用集成式的微型光譜儀，并集成積分球光源，可對(duì)平面樣品（如硅晶片，鍍膜表面，油漆，紙張，布料等）進(jìn)行反射率測(cè)試。
測(cè)試儀實(shí)現(xiàn)這兩種模式的光譜測(cè)量，通常需要光譜儀、光源、光纖、測(cè)量支架、標(biāo)準(zhǔn)參比樣品、和測(cè)量軟件等。對(duì)于不同種類的樣品，為了獲取Z佳的光譜數(shù)據(jù)，反射、透射這兩種基本模式又會(huì)演化為更多的形式。.
反射測(cè)試儀結(jié)構(gòu):
由智能測(cè)量?jī)x表、光積分球、平行光管、標(biāo)準(zhǔn)光源、恒流源構(gòu)成；
光強(qiáng)度測(cè)量信號(hào)經(jīng)模數(shù)轉(zhuǎn)換后由CPU對(duì)其進(jìn)行計(jì)算、補(bǔ)償，實(shí)時(shí)顯示被測(cè)器件的反射率；
該儀器讀數(shù)直觀準(zhǔn)確，適用于生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)和試驗(yàn)室質(zhì)量檢測(cè)與控制；
儀器主要功能特性：
1、超高集成度，完整的嵌入式結(jié)構(gòu)；
2、LED背光，高清晰真彩數(shù)字屏，輸出分辨率320×240，實(shí)時(shí)顯示測(cè)量數(shù)據(jù)；
3、系統(tǒng)內(nèi)存為 SDRAM 64MB。
4、低功耗32位高速ARM芯片，500MHz主頻；
5、全中文菜單模式，方便使用；
6、可預(yù)置參數(shù)，檢測(cè)時(shí)間、地點(diǎn)等系統(tǒng)信息；
7、具有參數(shù)校驗(yàn)、自動(dòng)調(diào)零、數(shù)據(jù)存儲(chǔ)，刪除，查詢等功能；
反射測(cè)試儀用于漆膜遮蓋力和反射率的測(cè)試，測(cè)試范圍0~100，是為涂料、顏料、油墨等化工行業(yè)貫徹執(zhí)行國標(biāo)標(biāo)準(zhǔn)、標(biāo)準(zhǔn)而研制的儀器。它可用于漆膜遮蓋力的測(cè)定和反射率的測(cè)量。
